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製品の品質は製造工程全体でつくり込んでいくものです。弊社では設計・製造ラインと一体化しながら高精度な測定機によって製品や材料等の分析を行い、品質と信頼性の向上に努めています。また下記に示す測定機を使用し製品と一緒に特性をお客様にお届け致します。
○所有する測定機
 スペクトラムアナライザー
高い分解能によって狭帯域の分光特性（透過率、反射率）を測定し、光通信用部品の品質管理に活用します。
分光光度計
日立製（U-4000、U-4100等）、島津製作所製（FT-IR等）等多数所持。薄膜光学製品の根幹ともいうべき成膜基板の透過率、反射率、吸光度を波長関数で計測します。
  
位相差測定機（ニコン製）
P波、S波の位相差、更に光学定数、厚膜を測定し光ピック部品等の品質管理に活用します。
レーザー干渉計（Zygo）
レーザー光線を用いて光の干渉を利用する事により、基板表面の面精度（平面性）や波面精度、レンズの収差を測定。加熱や膜応力による基板表面の歪みを測定します。
環境試験器
長期の苛酷な環境下における耐久性の測定とその際の特性変化のチェックのため以下のようなテストを行います。
− ヒートショックテスト
− ヒートサイクルテスト
− 恒温恒湿テスト
− 高温放置テスト
− プレッシャークッカーテスト
膜厚測定器
表面の微妙な物理的変化を測定します。
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